SLS

Publication au Science. Un nouveau microscope à rayons X super-résolvant mis au point en Suisse par une équipe de chercheurs de l'institut Paul Scherrer (PSI) et de l'EPFL, associe la forte capacité de pénétration des rayons X à la haute résolution spatiale, permettant ainsi pour la première fois d'expliquer en détail la composition interne de dispositifs semi-conducteurs et de structures cellulaires.